Development of AlInN photoconductors deposited by sputtering
Autores
Núñez Cascajero, ArántzazuIdentificadores
Enlace permanente (URI): http://hdl.handle.net/10017/29266DOI: 10.1002/pssa.201600780
ISSN: 1862-6319
Editor
Wiley
Fecha de publicación
2017-01-10Patrocinadores
Ministerio de Economía y Competitividad
Comunidad de Madrid
Universidad de Alcalá
Cita bibliográfica
Núñez-Cascajero, A., Jiménez-Rodríguez, M., Monroy, E., González-Herráez, M. and Naranjo, F. B. (2017), Development of AlInN photoconductors deposited by sputtering. Phys. Status Solidi A, 1600780. doi:10.1002/pssa.201600780
Palabras clave
AlInN
III-nitride semiconductors
Photoconductors
Sputtering
Proyectos
info:eu-repo/grantAgreement/MINECO//TEC2015-71127-C2-2-R/ES/REDUCCION DE LOS EFECTOS DE RUIDO EN SISTEMAS DE FIBRA OPTICA NO LINEALES/
info:eu-repo/grantAgreement/Comunidad de Madrid//S2009%2FMIT2790/ES/Sensores e INstrumentación en tecnologías FOTÓNicas/SINFOTON
info:eu-repo/grantAgreement/UAH//CCG2015%2FEXP-014
Tipo de documento
info:eu-repo/semantics/preprint
Versión
info:eu-repo/semantics/submittedVersion
Versión del editor
http://dx.doi.org/10.1002/pssa.201600780Derechos de acceso
info:eu-repo/semantics/openAccess
Resumen
In this work, we have developed photoconductor devices based on Al0.39In0.61N layers grown on sapphire by reac-tive radio-frequency magnetron sputtering. The fabricat-ed devices show a sublinear dependence of the photocur-rent as a function of the incident optical power. The above-the-band-gap responsivity reaches 7 W/A for an ir-radiance of 10 W/m2 (405 nm wavelength). The response decreases smoothly for below-the-bandgap excitation, dropping by more than an order of magnitude at 633 nm. The devices present persistent photoconductivity effects associated to carrier trapping at grain boundaries.
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